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    光學薄膜測量儀的主要特點和操作注意事項

    發布時間:2022-06-02    點擊次數:27
     
      光學薄膜測量儀主要用于電容器用聚脂薄膜、聚丙稀薄膜的電弱點測試,測試數據能真實地反映薄膜的質量水平。該系列產品的主要元器件均選用進口品牌,有效地保證了設備的可靠性、耐用性和穩定性。測量準確,復現性好。測試過程采用電子技術全自動控制,遇到電弱點時電壓切斷動作迅速。擊穿電流連續可調,復現性好。本機具備多重保護功能,充分考慮了操作人員及設備的安全性。如過壓、過流、接地保護,試驗平臺門開啟保護。
     
      光學薄膜測量儀的產品特點:
     
      微電腦控制系統,大液晶顯示、PVC操作面板,方便用戶進行試驗操作和數據查看。
     
      嚴格按照標準設計的接觸面積和測量壓力,同時支持各種非標定制。
     
      測試過程中測量頭自動升降,有效避免了人為因素造成的系統誤差。
     
      支持自動和手動兩種測量模式,方便用戶自由選擇。
     
      系統自動進樣,進樣步距、測量點數和進樣速度等相關參數均可由用戶自行設定。
     
      實時顯示測量結果的Z大值、Z小值、平均值以及標準偏差等分析數據,方便用戶進行判斷。
     
      配置標準量塊用于系統標定,保證測試的精度和數據一致性。
     
      系統支持數據實時顯示、自動統計、打印等許多實用功能,方便快捷地獲取測試結果。
     
      標準的USB接口,便于系統與電腦的外部連接和數據。
     
      光學薄膜測量儀的操作注意事項:
     
      1、試驗結束后,必須切斷電源。
     
      2、保持機器清潔,非試驗用機時間,需用防塵布覆蓋整個儀器。
     
      3、試驗過程中要注意水平放置,測試時盡量減少人工干預。
     
      4、注意定期的維護與保養。
     
      5、如果儀器發生故障,操作人員在熟悉該設備使用手冊及電器原理的基礎上,須在售后服務人員的配合下方可進行常規的維修保養與故障排除,嚴禁客戶擅自拆卸。
     
      6、設備精度校驗間隔時間按照有關規范執行。

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